高精度3D激光測量系統
Delph系列
Delph系列高精度3D激光測量系統采用非接觸光學測量原理，通過光柵投影的方式實現點云獲取，搭載機器人、導軌、轉臺等運動機構實現大范圍柔性測量，高密度點云測量，真實還原物體的豐富表面細節。3D激光測量系統因其效率高、精度高、數據量大、成本低、環境要求低等特點。可實現物體形狀測量，如高度差、寬度、角度、半徑等測量。通過移動物體實現3D掃描，并可以保存為點云文件。
詳情內容
軟件界面
產品特點
最高1280測量點每掃描線
測量重復精度最高0.2 μm
通過千兆以太網數據傳輸
位置補正消除傾斜誤差
638nm紅色激光，IP67防護等級，可檢測玻璃和高反光材料
產品應用
應用場景：模型與實物對比檢測誤差；檢測表面的平面度，凹凸缺陷；計算體積，某個高度下的面積；凸起OCR識別等
